• head_banner_015

Atominių jėgų mikroskopas

Atominių jėgų mikroskopas

  • atomic force afm microscope

    atominės jėgos afm mikroskopas

    Prekinis ženklas: NANBEI

    Modelis: AFM

    Atominės jėgos mikroskopas (AFM) – analitinis instrumentas, kurį galima naudoti kietųjų medžiagų, įskaitant izoliatorius, paviršiaus struktūrai tirti.Jis tiria medžiagos paviršiaus struktūrą ir savybes, nustatydamas itin silpną tarpatominę sąveiką tarp tiriamo mėginio paviršiaus ir mikrojėgai jautraus elemento.